Leeb Hardness Tester D Type Probe Tungsten Carbide Impact Device

Leeb Hardness Tester D Type Probe Tungsten Carbide Impact Device

Leeb Hardness Tester D Type Probe merupakan conventional impact device untuk berbagai kebutuhan pengujian kekerasan dengan metode Leeb. Probe digunakan bersama hardness tester yang kompatibel dan sesuai untuk banyak workpiece umum ketika ukuran serta ketebalan sampel memenuhi persyaratan pengujian.

Conventional D Type Impact Device

Impact energy sebesar 11 Nmm dengan impact body weight sekitar 5,5 g. Tip menggunakan tungsten carbide berdiameter 3 mm dengan hardness 1600 HV. Maximum sample hardness tercantum hingga 940 HV.

Minimum sample thickness tanpa coupling sekitar 25 mm dan dengan coupling sekitar 3 mm. Surface layer thickness minimum tercantum 0,8 mm. Produk ini termasuk kategori hardness tester dan aksesori NDT.

Spesifikasi Teknis

• Jenis: D Type impact device
• Impact energy: 11 Nmm
• Impact body weight: 5,5 g
• Tip diameter: 3 mm
• Tip material: Tungsten carbide
• Tip hardness: 1600 HV
• Maximum sample hardness: 940 HV
• Impact device diameter: 20 mm
• Impact device length: 147 mm
• Impact device weight: sekitar 75 g