Leeb Hardness Tester C Type Probe Impact Device untuk Thin Parts

Leeb Hardness Tester C Type Probe Impact Device untuk Thin Parts

Leeb Hardness Tester C Type Probe merupakan impact device untuk pengujian kekerasan pada komponen berukuran kecil, ringan, tipis, atau permukaan dengan hardened layer. Probe ini digunakan sebagai aksesori pada Leeb hardness tester yang kompatibel dan tidak termasuk unit meter utama.

C Type untuk Komponen Tipis

C Type dirancang untuk kondisi yang lebih sulit ditangani oleh conventional D Type probe. Berdasarkan data produk, probe dapat digunakan pada bagian dengan ketebalan sekitar 1 mm ke atas pada kondisi sampel yang sesuai, sedangkan probe standar membutuhkan material lebih tebal untuk hasil optimal.

Aplikasi mencakup komponen kecil, light parts, thin parts, dan surface hardened layer. Produk ini termasuk kategori hardness tester dan aksesori NDT.

Spesifikasi Teknis

• Jenis: C Type impact device
• Aplikasi: Small, light dan thin parts
• Aplikasi: Hardened surface layer
• Penggunaan: Leeb hardness tester kompatibel
• Unit meter utama: Tidak termasuk